Informations pour « Cristallographie aux rayons X »

Informations de base

Titre affichéCristallographie aux rayons X
Clé de tri par défautCristallographie aux rayons X
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Identifiant de la page7926876
Langue du contenu de la pagefr - français
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Identifiant d’élément de WikidataQ826582
Description centraletechnique utilisée pour déterminer la structure atomique ou moléculaire d'un cristal, dans laquelle les atomes disposés de façon ordonnée provoquent la diffraction d'un faisceau de rayons X incidents dans des directions spécifiques
Image de la pageX-ray diffraction pattern 3clpro.jpg
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Créateur de la pageCdang (discuter | contributions)
Date de création de la page23 décembre 2004 à 16:37
Dernier rédacteur195.25.205.220 (discuter)
Date de la dernière modification19 février 2024 à 10:56
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